동축 조명
특수 코팅된 하프 미러를 사용하여 잔상이 없는 조명
Features
Using a half-mirror structure, light is projected in the same direction as the camera’s optical axis, enabling uniform illumination of the entire target surface without casting shadows.
On-axis incident light is directly reflected from flat surfaces back to the camera, allowing stable contrast detection of patterns, printed marks, and fine defects.
Illumination influence caused by surface unevenness or height differences is minimized, enabling clear and undistorted visualization of printed characters, engravings, and circuit patterns.
Minimal variation due to illumination angle ensures high repeatability and reliability in alignment inspection and precision component inspection processes.
특징
하프미러 구조를 통해 카메라 광축과 동일한 방향으로 빛을 조사하여 대상 표면 전체를 그림자 없이 균일하게 조사할 수 있다.
정면 입사된 빛이 평탄한 표면에서 카메라로 직접 반사되어 패턴, 인쇄, 미세 결함을 안정적인 명암 대비로 검출할 수 있다.
표면 요철이나 높이 차이에 따른 조명 영향이 작아 인쇄 문자, 각인, 회로 패턴의 형상이 왜곡 없이 명확하게 표현된다.
조명 각도에 따른 편차가 거의 없어 반복 정렬 공정이나 정밀 부품 검사에서 높은 재현성과 신뢰도를 확보할 수 있다.
Inspection Applications
- Mirror-Surface Alignment Inspection
- By utilizing the on-axis illumination characteristics of coaxial lighting, reference marks and datum features on mirror-finished surfaces can be detected without distortion, enabling precise measurement of alignment errors.
- Metal Surface Inspection
- Uniform front illumination is applied to metal surfaces, allowing hairline scratches, fine defects, and contamination to be stably detected with clear contrast.
- LCD and Display Inspection
- Uniform illumination of glass substrates and display patterns enables clear inspection of non-uniformity, pattern defects, and contamination without shadow interference.
- Surface Inspection
- Fine contamination, scratches, and defects on flat surfaces can be consistently detected with uniform image quality, independent of variations in illumination angle.
검사 용도
- 경면상의 정렬 검사
- 동축조명의 정면 조사 특성을 활용해 경면 표면에서 기준 마크와 가장자리를 왜곡 없이 검출하여 위치·정렬 오차를 정밀하게 판별할 수 있다.
- 금속표면 검사
- 금속 표면에 균일한 정면광을 조사해 헤어라인, 미세 스크래치, 오염 등을 안정적인 명암 차이로 검출할 수 있다.
- LCD 및 액정
- 유리 기판과 액정 표면을 균일하게 조사하여 셀 불균일, 패턴 결함, 오염을 그림자 간섭 없이 명확히 확인할 수 있다.
- 표면 검사
- 평탄한 표면의 미세 요철, 얼룩, 결함을 조명 각도 변화 영향 없이 일관된 영상 품질로 검출할 수 있다.
Acquired image
계측 이미지