By applying a dark field structure that illuminates at a low incident angle, reflections from flat areas are suppressed, while surface defects such as scratches, dents, and irregularities are selectively highlighted.

With an adjustable-angle illumination structure, slight height variations or directional defects are expressed through scattered light, enabling high defect detection sensitivity even under low brightness contrast.

An illumination approach that avoids direct reflections reduces highlights on reflective materials like metal and glass, allowing for consistent and stable imaging

Incidence angles such as 45° and 60° can be selected and applied, allowing flexible configuration of optimal dark-field conditions depending on the characteristics of the object and the type of defects.

낮은 입사각으로 빛을 조사하는 Dark Field 구조를 적용해, 평탄부 반사는 억제하고 스크래치·찍힘·요철과 같은 표면 결함을 선택적으로 강조할 수 있다.

각도 조절이 가능한 조사 구조를 통해 미세한 높이 차이나 방향성 결함이 산란광으로 표현되어, 밝기 대비가 작아도 결함 검출 감도가 높다.

직접 반사를 피하는 조사 방식으로 금속·유리 등 고반사 대상에서도 하이라이트 발생을 최소화하여, 안정적인 영상 획득이 가능하다.

45°, 60° 등 다양한 입사각을 선택 적용할 수 있어, 대상물 특성과 결함 유형에 따라 최적의 Dark Field 조건을 유연하게 구성할 수 있다.