동축 조명
특수 코팅된 하프 미러를 사용하여 잔상이 없는 조명
#머신비전조명 #금속표면 검사 #경면상의 정렬검사 #프린트 패턴검사
특징
균일한 정면 조사 구현
하프미러 구조를 통해 카메라 광축과 동일한 방향으로 빛을 조사하여 대상 표면 전체를 그림자 없이 균일하게 조사할 수 있다.
평탄·저반사 표면 검사에 최적
정면 입사된 빛이 평탄한 표면에서 카메라로 직접 반사되어 패턴, 인쇄, 미세 결함을 안정적인 명암 대비로 검출할 수 있다.
문자·패턴 인식에 유리
표면 요철이나 높이 차이에 따른 조명 영향이 작아 인쇄 문자, 각인, 회로 패턴의 형상이 왜곡 없이 명확하게 표현된다.
정밀 검사 공정에 적합
조명 각도에 따른 편차가 거의 없어 반복 정렬 공정이나 정밀 부품 검사에서 높은 재현성과 신뢰도를 확보할 수 있다.
검사 용도
- 경면상의 정렬 검사
- 동축조명의 정면 조사 특성을 활용해 경면 표면에서 기준 마크와 가장자리를 왜곡 없이 검출하여 위치·정렬 오차를 정밀하게 판별할 수 있다.
- 금속표면 검사
- 금속 표면에 균일한 정면광을 조사해 헤어라인, 미세 스크래치, 오염 등을 안정적인 명암 차이로 검출할 수 있다.
- LCD 및 액정
- 유리 기판과 액정 표면을 균일하게 조사하여 셀 불균일, 패턴 결함, 오염을 그림자 간섭 없이 명확히 확인할 수 있다.
- 표면 검사
- 평탄한 표면의 미세 요철, 얼룩, 결함을 조명 각도 변화 영향 없이 일관된 영상 품질로 검출할 수 있다.
계측 이미지
제품 목록
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