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MACHINE VISION LIGHT

다이렉트 로우 앵글 링조명

낮은 각도에서 빛을 조사하여 크랙 검사나 외형 검사에 최적화 되어있는 조명

  • 다이렉트 로우 앵글 링조명
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특징
Dark Field 조사로 표면 결함 강조

낮은 입사각으로 빛을 조사하는 Dark Field 구조를 적용해, 평탄부 반사는 억제하고 스크래치·찍힘·요철과 같은 표면 결함을 선택적으로 강조할 수 있다.

미세 결함 검출 감도 향상

각도 조절이 가능한 조사 구조를 통해 미세한 높이 차이나 방향성 결함이 산란광으로 표현되어, 밝기 대비가 작아도 결함 검출 감도가 높다.

광택 표면에서도 안정적인 검사

직접 반사를 피하는 조사 방식으로 금속·유리 등 고반사 대상에서도 하이라이트 발생을 최소화하여, 안정적인 영상 획득이 가능하다.

입사각 선택을 통한 검사 유연성

45°, 60° 등 다양한 입사각을 선택 적용할 수 있어, 대상물 특성과 결함 유형에 따라 최적의 Dark Field 조건을 유연하게 구성할 수 있다.

검사 용도
엣지 검사
낮은 입사각의 Dark Field 조사로 외곽 에지를 강조하여, 미세한 칩핑·깨짐·형상 불량을 명확히 검출할 수 있다.
흠집 검사
표면에서 발생하는 산란광을 활용해 스크래치 방향과 깊이를 강조함으로써, 육안으로 구분이 어려운 미세 흠집까지 검출이 가능하다.
레이저 각인 판독
레이저 각인으로 형성된 미세 요철을 명확히 부각시켜, 대비가 낮은 각인 문자나 패턴도 안정적으로 판독할 수 있다.
칩 부품검사
칩 부품의 모서리, 단차, 파손 부위를 선택적으로 강조할 수 있어, 실장 전·후 외관 불량을 효과적으로 판별할 수 있다.
계측 이미지
제품 리스트
Model Color Dimension Voltage PDF
LIDLA-080040-A45
IR/R/G/B/W/UV
Outer Diameter : 80⌀
Inner Diameter : 40⌀
Height : 24mm
W/R/G/B/IR/UV : 12/24V
LIDLA-100060-A45
IR/R/G/B/W/UV
Outer Diameter : 100⌀
Inner Diameter : 60⌀
Height : 24mm
W/R/G/B/IR/UV : 12/24V
LIDLA-120070-A45
IR/R/G/B/W/UV
Outer Diameter : 120⌀
Inner Diameter : 70⌀
Height : 27mm
W/R/G/B/IR/UV : 12/24V
LIDLA-150100-A45
IR/R/G/B/W/UV
Outer Diameter : 150⌀
Inner Diameter : 100⌀
Height : 27mm
W/R/G/B/IR/UV : 12/24V
LIDLA-300200-A45
IR/R/G/B/W/UV
Outer Diameter : 300⌀
Inner Diameter : 200⌀
Height : 50mm
W/R/G/B/IR/UV : 12/24V